Syllabus
MAC-1003 Caracterización Estructural
DR. LUIS HUMBERTO MAY HERNANDEZ
lmay@itescam.edu.mx
| Semestre | Horas Teoría | Horas Práctica | Créditos | Clasificación |
| 4 | 2 | 2 | 4 | Ciencia Ingeniería |
| Prerrequisitos |
| Comprender la estructura atómica | Conocer las diferentes estructuras cristalinas | Aplicar los conocimientos fundamentales de cristalografía | Correlacionar los fundamentos de óptica y de mecánica cuántica | Entender problemas de análisis vectorial | Correlacionar los fundamentos de óptica y de mecánica cuántica |
| Competencias | Atributos de Ingeniería |
| Conocer los principios de formación de imágenes en el microscopio óptico, | Comunicarse efectivamente con diferentes audiencias | Conocer las principales partes del microscopio óptico | Comunicarse efectivamente con diferentes audiencias | Preparar muestras metalograficas | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Identificar los tipos de radiación | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Analizar y discutir patrones de difracción de diferentes materiales | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería | Comprender el principio de funcionamiento del MEB | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Comprender los principios de formación de imágenes | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Conocer las tecnicas de preparación de muestras | Desarrollar y conducir una experimentación adecuada; analizar e interpretar datos y utilizar el juicio ingenieril para establecer conclusiones | Describir y pormenorizar los principios de funcionamiento | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Identificar las técnicas de preparación de muestras | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Interpretar imagenes de alta resolución | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería |
| Normatividad |
| 1. El pase de lista, se realizará 10 min después de iniciada la sesión, la llegada dentro de los 5 min posteriores a este tiempo se tomará como retardo. Dos retardos equivalen a una falta. 2. No se permitirá introducir comidas y bebidas al salón de clases. 3. Los trabajos de investigación, tareas y/o exposiciones, deberán entregarse en tiempo y forma indicada. Los trabajos entregados extemporáneos serán calificados sobre 70/100 puntos. 4. Los alumnos deberán dirigirse con respeto y de manera adecuada a sus compañeros y al profesor usando un lenguaje apropiado y cortés. 5. No se permitirá el uso de gorras y/o lentes de sol en el salón de clase, así como tampoco tomar fotografías o grabar video con los celulares en clase, las llamadas podrán contestarse fuera del salón de clases siempre y cuando el celular se encuentre en modo de vibracion. 6. Para tener derecho de presentar 1ra Reevaluación, el alumno debera contar con el 80 % de asistencias, asi como realizar correctamente todas las actividades y trabajos pendientes. En caso de tener menos del 80 % de asistencia se turnara a exámenes de 2a Reevalación. |
| Materiales |
| Calculadora y bata de laboratorio (cuando se indique) |
| Bibliografía disponible en el Itescam | |||||
Título |
Autor |
Editorial |
Edición/Año |
Ejemplares |
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| Física / |
Resnick, Robert. |
Cecsa, |
5a. / 2002. |
4 |
Si |
Introducción a la fisicoquímica : Termodinámica / |
Engel, Thomas |
Pearson educación, |
2007. |
5 |
- |
| Parámetros de Examen | ||
| PARCIAL 1 | De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.7.1 | |
| PARCIAL 2 | De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.9.1 | |
| Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje) | |
| 1. Microscopía óptica
1.1. Conocer los principios de formación de imágenes en el microscopio óptico, 1.1.1. Investigar y discutir los principios que rigen la formación de imágenes en el ojo humano, en lentes simples y compuestos para la caracterización de la imagen formada. 
Formacion de imaganes ( bytes)
Manual de laboratorio ( bytes)
1.2. Conocer las principales partes del microscopio óptico 1.2.1. Identificar las partes fundamentales en el microscopio
Partes de microscopio optico ( bytes)
1.2.2. Calcular y comparar los aumentos en: Lente simples y en el microscopio �ptico
Partes y funcionamiento 1 ( bytes)
1.2.3. Distinguir los conceptos de: Distancia focal , Eje óptico, Rayos focales, Rayos paralelos
Partes y funcionamiento 2 ( bytes)
1.2.4. Investigar la longitud de onda de filtros de diferentes colores y calcular el poder de resolución.
Partes y funcionamiento 3 ( bytes)
1.2.5. Seleccionar el tipo de objetivo y oculares para realizar observaciones con bajos y altos aumentos.
Partes y funcionamiento 4 ( bytes)
1.2.6. Observar la profundidad de foco de objetivos diferentes
Partes y funcionamiento 5 ( bytes)
1.3. Conocer los principales métodos de iluminacion 1.3.1. Investigar la longitud de onda de filtros de diferentes colores y calcular el poder de resolución.
Metodos de iluminacion ( bytes)
1.4. Preparar muestras metalograficas 1.4.1. Preparar muestras metalográficas para su observación 
Preparacion de muestras ( bytes)
1.5. Interpretar la microestrucutra de materiales diversos 1.5.1. Analizar y discutir la microestructura de diversos materiales
Interpretacion de microestructuras ( bytes)
1.6. Analizar las imágenes obtenidos en el MO 1.6.1. Analizar y discutir de los resultados en muestras observadas o de ejemplos de proporcionados por el profesor
Analizador de imagenes ( bytes)
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2. Técnicas de difracción de rayos X
2.1. Identificar los tipos de radiación 2.1.1. Investigar y discutir la clasificaci�n y caracter�sticas de las radiaciones en funci�n de la longitud de onda.
Introduccion a los rayos X ( bytes)
2.2. Comprender el principio de formación de los rayos X 2.2.1. Analizar la interacción de los rayos X con la materia.
Generacion de Rayos X ( bytes)
2.2.2. Describir el fundamento del espectro de rayos X.
Espectro de rayos X ( bytes)
2.3. Conocer y aplicar la Ley de Bragg 2.3.1. Demostrar la Ley de Bragg y su significado físico.
Ley de Bragg ( bytes)
2.4. Comprender la utilidad del factor de estructura 2.4.1. Describir el efecto del contenido atómico de los cristales en la difracción de rayos X a través del factor de estructura.
Factor de estructura ( bytes)
2.5. Identificar las técnicas de difracción de rayos X 2.5.1. Estimar y comparar las condiciones de reflexión y de extinción específica para diferentes estructuras cristalinas
Tecnicas ( bytes)
2.5.2. Identificar en el difractómetro de rayos X, sus partes fundamentales.
Partes y funcionamiento ( bytes)
2.6. Analizar y discutir patrones de difracción de diferentes materiales 2.6.1. Indexar e interpreta los patrones de difracción.
Patrones de difraccion ( bytes)
2.6.2. Aplicar la técnica de difracción de los rayos X en los materiales
Patrones de difraccion ( bytes)
2.7. Comprender la utilidad del Método Rietveld 2.7.1. Realizar el refinamiento de patrones de difracci�n de rayos X
Rietveld ( bytes)
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3. Microscopía electrónica de barrido
3.1. Comprender el principio de funcionamiento del MEB 3.1.1. Investigar el funcionamiento de cada una de las partes que constituyen el MEB asi como analizar la trayectoria del haz de electrones dentro de la columna del microscopio, desde su generación hasta el impacto sobre la muestra.
Introduccion ( bytes)
3.2. Comprender los mecanismos de interacción haz de electrones – materia 3.2.1. Comprender los principios de formación de patrones de difracción e imágenes.
Interaccion ( bytes)
3.3. Comprender los principios de formación de imágenes 3.3.1. Comparar la formación de imágenes en campo claro y en campo obscuro.
Formacion de imagenes ( bytes)
3.4. Identificar el microanálisis por dispersión de energía 3.4.1. Analizar la difracción de electrones en el MET, en base a muestras cristalinas y red recíproca.
Energia dispersiva ( bytes)
3.5. Identificar el microanálisis por dispersión de longitud de onda 3.5.1. Realizar microanálisis por dispersión de longitud de onda en muestras de diferentes tipos de materiales
WDS ( bytes)
3.6. Conocer las tecnicas de preparación de muestras 3.6.1. Preparar muestras par ser obervadas, asi como examinar los alcances y limitaciones del MEB
Preparacion de muestras ( bytes)
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4. Microscopía electrónica de transmisión
4.1. Describir y pormenorizar los principios de funcionamiento 4.1.1. Investigar y discutir los principios del MET. Asi como indetificar las partes del microscopio
Descripcion del MET ( bytes)
4.2. Identificar las técnicas de preparación de muestras 4.2.1. Describir y aplicar las técnicas para la preparación de muestras
Preparacion d muestras ( bytes)
4.3. Comprender el principio del poder de resolución 4.3.1. Identificar los factores que afectan el poder de resolución
Resolucion ( bytes)
4.4. Comprender el principio de formacion de imagenes 4.4.1. Comparar la formación de imágenes en campo claro y en campo obscuro.
Formacion de imagenes ( bytes)
4.5. Interpretar los patrones de difracción 4.5.1. Analizar la difracción de electrones en el MET, en base a muestras cristalinas y red recíproca.
Patrones de difraccion ( bytes)
4.6. Comprender la reglas de indexación 4.6.1. Aplicar las reglas de indexación y utilizar software
Rglas de indexado ( bytes)
4.7. Comprender la teoría cinemática 4.7.1. Distinguir la interpretación de la teoría cinemática de contraste en cristales perfectos e imperfectos.
Teoria cinematica ( bytes)
4.8. Comprender la teoría dinámica 4.8.1. Comprender la teoría dinámica para la interpretación de imágenes de imperfecciones cristalinas.
Teoria dinamica ( bytes)
4.9. Interpretar imagenes de alta resolución 4.9.1. Aplicar la metodología en la caracterización estructural e identifica los defectos de estructura.
HRTEM ( bytes)
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| Prácticas de Laboratorio (20222023P) |
Fecha |
Hora |
Grupo |
Aula |
Práctica |
Descripción |
| Cronogramas (20222023P) | |||
| Grupo | Actividad | Fecha | Carrera |
| Temas para Segunda Reevaluación |