Syllabus
MAC-1003 Caracterización Estructural
DR MARIO ADRIAN DE ATOCHA DZUL CERVANTES
maadzul@itescam.edu.mx
| Semestre | Horas Teoría | Horas Práctica | Créditos | Clasificación |
| 4 | 2 | 2 | 4 | Ciencia Ingeniería |
| Prerrequisitos |
| Comprende la estructura atómica Conoce las diferentes estructuras cristalinas Aplica los conocimientos fundamentales de cristalografía Comprende los fundamentos de óptica. |
| Competencias | Atributos de Ingeniería |
| Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería | Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería |
| Normatividad |
| 1. El alumno tendrá máximo 10 minutos de retardo, después de ese tiempo se considera falta. 2. El alumno debe tener una libreta exclusiva de la materia, así como calculadora científica, bolígrafo, portaminas y borrador. 3. El alumno deberá prestar atención durante la clase, en caso contrario, no tendrá derecho de aclarar dudas. 4. El alumno debe mostrar respeto al profesor y a sus compañeros. 5. No está permitido comer en el aula. 6. No se permite el uso de dispositivos electrónicos (laptops, celulares, tablets, etc.) en el aula, a menos que la clase lo requiera. 7. Las tareas serán aceptadas siempre que se entreguen en tiempo y forma, después NO se aceptarán. 8. Para tener derecho a entregar tareas, el alumno deberá cubrir al menos el 80% de asistencias. 9. Para tener derecho a reevaluación, el alumno debe entregar las tareas, en caso de NO entregarla, NO tendrá derecho a reevaluación. De igual modo, en caso de que se detecte plagio y/o duplicidad de tareas, ambos autores tendrán que recursar la asignatura. 10. Las prácticas NO son reprogramables. 11. Debido a la CONTINGENCIA COVID-19, en caso de tener algún síntoma o bien, estar en contacto con alguna persona con síntomas, NO asistir de manera presencial, realizar su proceso de justificación de acuerdo al reglamento. Es responsabilidad del (la) estudiante, estar pendiente de las actividades realizadas y por entregar |
| Materiales |
| Bibliografía disponible en el Itescam | |||||
Título |
Autor |
Editorial |
Edición/Año |
Ejemplares |
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| Fundamentos de la ciencia e ingeniería de materiales / |
Smith, William F. |
Mcgraw hill, |
4a. / 2006. |
3 |
- |
Fundamentos de química analítica / |
Skoog, Douglas A. |
International Thomson, |
8a. / 2005. |
8 |
- |
| Parámetros de Examen | ||
| PARCIAL 1 | De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.1.1 | |
| PARCIAL 2 | De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.1.1 | |
| Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje) | |
| 1. Microscopía óptica
1.1. Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. 1.1.1. Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio, para identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes y poder preparar muestras metalográficas, y así distinguir formas características  Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill. |
2. Técnicas de difracción de rayos X
2.1. Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material 2.1.1. Resumir las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. Así mismo, explicar la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción e interpretar los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructur Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill. 2.1.2. Parcial 1 Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill. |
3. Microscopía electrónica de barrido
3.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material 3.1.1. Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB, y así distinguir entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a c Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill. |
4. Microscopía electrónica de transmisión
4.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. 4.1.1. Resumir las fuentes de información con lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET, para contrastar entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET y poder interpretar los patrones de difracción de una muest Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill. 4.1.2. Parcial 2 Douglas, S. y Leary, J. (2012). Principios de Análisis Instrumental. McGraw – Hill. |
| Prácticas de Laboratorio (20232024P) |
Fecha |
Hora |
Grupo |
Aula |
Práctica |
Descripción |
| Cronogramas (20232024P) | |||
| Grupo | Actividad | Fecha | Carrera |
| Temas para Segunda Reevaluación |