Syllabus
MAC-1003 Caracterización Estructural
DR. ALEJANDRO ORTIZ FERNANDEZ
aeortiz@itescam.edu.mx
Semestre | Horas Teoría | Horas Práctica | Créditos | Clasificación |
4 | 2 | 2 | 4 | Ciencia Ingeniería |
Prerrequisitos |
El alumno para poder llevar la asignatura de caracterización estructural deberá tener las siguientes competencias previas: 1) comprende la estructura atómica, 2) conoce las diferentes estructuras cristalinas, 3) aplica los conocimientos fundamentales de cristalografía y 3) comprende los fundamentos de óptica. |
Competencias | Atributos de Ingeniería |
Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. | Desarrollar y conducir una experimentación adecuada; analizar e interpretar datos y utilizar el juicio ingenieril para establecer conclusiones | Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material | Aplicar, analizar y sintetizar procesos de diseño de ingeniería que resulten en proyectos que cumplen las necesidades específicas | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. | Identificar, formular y resolver problemas de ingeniería aplicando los principios de las ciencias básicas e ingeniería |
Normatividad |
1. El pase de lista, se realizará al inicio de la sesión, tendrán 15 min posteriores a este tiempo para poder ingresar al salón de clases, posteriores a este tiempo, ya no podrán ingresar al salón y se tomará como falta automática; asimismo, es requisito para presentar el examen institucional que el alumno cuente con un mínimo de 80% de asistencia. 2.- Las faltas sólo podrán ser justificadas con documentos oficiales y el encargado de quitar las inasistencias es el jefe de división del PE. 3.- Los trabajos de investigación, tareas y/o exposiciones, deberán entregarse en tiempo y forma indicada, no se aceptarán de manera extemporánea. 4.- Los alumnos deberán dirigirse con respeto y de manera apropiada a sus compañeros y autoridades del instituto usando un lenguaje apropiado y cortés. 5.- Los teléfonos celulares deben ser apagados antes de la sesión o configurarlo en la modalidad de silencio. 6.- Está prohibido introducir alimentos al salón de clases. 7.- Es responsabilidad del alumno participar activamente en los sistemas diseñados para la educación (MOODLE), así como en el salón clase a través de los sistemas y dinámicas diseñadas para tal efecto. |
Materiales |
Libreta de apuntes, bitácora para prácticas de laboratorio y bata de laboratorio. |
Bibliografía disponible en el Itescam | |||||
Título |
Autor |
Editorial |
Edición/Año |
Ejemplares |
|
Materials engineering and design / |
Ashby, Michael |
Butterwort-Heinemann, |
2008. |
8 |
- |
Materiales para ingeniería 1: Introducción a las propiedades, las aplicaciones y el diseño/ |
Ashby, Michael F. |
Reverte, |
2008. |
1 |
- |
Introducción a la ciencia de materiales para ingenieros / |
Shackelford, James F. |
Pearson educación, |
2010. |
2 |
- |
Ciencia e ingeniería de materiales : |
Askeland, Donald R. |
Cengage, |
2022. |
0 |
- |
Parámetros de Examen | ||
PARCIAL 1 | De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.1.3 | |
PARCIAL 2 | De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.1.3 |
Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje) | |
1. Microscopía óptica
1.1. Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. 1.1.1. Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio. ![]() ![]() 1.1.2. Identificar el efecto de los objetivos para amplificación de imágenes. ![]() 1.1.3. Preparar muestras metalográficas. ![]() 1.1.4. Distinguir formas características en las imágenes, asociándolas a alguna microestructura. ![]() |
2. Técnicas de difracción de rayos X
2.1. Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material 2.1.1. Resume de las fuentes de información la naturaleza y generación de los rayos X. ![]() 2.1.2. Explica la Ley de Bragg considerando el fenómeno de difracción. ![]() 2.1.3. Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. ![]() |
3. Microscopía electrónica de barrido
3.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material 3.1.1. Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a las leyes de la reflexión. ![]() 3.1.2. Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB. ![]() 3.1.3. Distingue entre fases presentes en las imágenes de muestras, asociándolas a características morfológicas. ![]() |
4. Microscopía electrónica de transmisión
4.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. 4.1.1. Resume de las fuentes de información lo relativo a la cinemática y dinámica aplicable a MET. ![]() 4.1.2. Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica, MEB y MET. ![]() 4.1.3. Interpreta los patrones de difracción de una muestra para determinar sus propiedades estructurales. ![]() |
Prácticas de Laboratorio (20242025N) |
Fecha |
Hora |
Grupo |
Aula |
Práctica |
Descripción |
Cronogramas (20242025N) | |||
Grupo | Actividad | Fecha | Carrera |
Temas para Segunda Reevaluación |