Syllabus
MAC-1003 Caracterización Estructural
MC. ISABEL DEL SOCORRO QUINTAL HEREDIA
isquintal@itescam.edu.mx
Semestre | Horas Teoría | Horas Práctica | Créditos | Clasificación |
4 | 2 | 2 | 4 | Ciencia Ingeniería |
Prerrequisitos |
Comprende la estructura atómica Conoce las diferentes estructuras cristalinas Aplica los conocimientos fundamentales de cristalografía Comprende los fundamentos de óptica |
Competencias | Atributos de Ingeniería |
Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. | Desarrollar y conducir una experimentación adecuada; analizar e interpretar datos y utilizar el juicio ingenieril para establecer conclusiones | Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material | Reconocer la necesidad permanente de conocimiento adicional y tener la habilidad para localizar, evaluar, integrar y aplicar este conocimiento adecuadamente | Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. | Trabajar efectivamente en equipos que establecen metas, planean tareas, cumplen fechas límite y analizan riesgos e incertidumbre |
Normatividad |
* Alumno se presentará al salón de clases (aula virtual)con una tolerancia de 10 minutos, a partir del minuto 11 se considera falta. * En caso de que llegara a faltar el grupo completo a las sesiones de clases, se considerará el tema visto. * El alumno guardará el debido respeto en el momento de entrar al salón de clases (aula virtual) (hacia sus compañeros y al profesor), se le llamará la atención una sola vez y si persiste su mal comportamiento, el profesor podrá suspenderlo el tiempo que considere necesario. De igual manera podría incluir perder derecho a presentar primera y segunda reevaluación si la amonestación lo requiere. * El alumno justificará sus faltas en caso de portar un documento que acredite dicha falta y deberá presentarla el día inmediato que se presente a clase después de los días de ausencia (en caso presencial) * Los trabajos se recibirán en el tiempo y la forma (no se aceptan trabajos fuera de los tiempos estipulados) señalada por el profesor de la clase.(Queda a consideración del profesor casos extraordinarios comprobables en los que se reciban los trabajos, pero estos tendrán un puntaje inferior). * En caso de exposiciones y trabajos de investigación o exposición los criterios se encuentran en el syllabus portal del alumno, y la entrega de los mismos es en tiempo y forma establecidos. * El alumno debe de cumplir con el 80 % de asistencia como mínimo para poder tener derecho al examen departamental(modo presencial). * El alumno deberá solicitar permiso al profesor para salir del aula cuando se está impartiendo una clase, en caso contrario no se le permitirá de nuevo el acceso. * Prohibido introducir alimentos en el salón de clase, excepto agua (presencial) |
Materiales |
Equipo de computo, libreta de apuntes, material de apoyo proporcionado en el syllabus |
Bibliografía disponible en el Itescam | |||||
Título |
Autor |
Editorial |
Edición/Año |
Ejemplares |
|
Ciencia e Ingenieria de los materiales/ |
Askeland Donald R. |
Thomson, |
4a. / 2003. |
6 |
- |
Materiales para ingenieria 2: Introducción a la microestructura, el procesamiento y el diseño/ |
Ashby, Michael F. |
Reverté, |
2009. |
1 |
- |
Parámetros de Examen | ||
PARCIAL 1 | De la actividad 1.1.1 a la actividad 2.1.1 | |
PARCIAL 2 | De la actividad 3.1.1 a la actividad 4.1.5 |
Contenido (Unidad / Competencia / Actividad / Material de Aprendizaje) | |
1. Microscopía óptica
1.1. Aplica los principios de formación de imágenes del microscopio óptico y prepara muestras metalográficas para su análisis microestructural. 1.1.1. Actividad 1. Investigar e Ilustrar la formación de imágenes de acuerdo a los componentes del microscopio. Identificar el efecto de los objetivos ![]() 1.1.2. PRÁCTICA 1 Preparar muestras metalográficas. • Distinguir formas características en las imágenes, asociándolas a alguna microestructura ![]() |
2. Técnicas de difracción de rayos X
2.1. Aplica los principios de la difracción de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material 2.1.1. Sumativo. Técnicas de rayos x. Exposición ![]() ![]() |
3. Microscopía electrónica de barrido
3.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MEB para la caracterización de un material 3.1.1. ACTIVIDAD. Contrasta entre los métodos de preparación de muestras para microscopía óptica y MEB. (formativa 20%) ![]() 3.1.2. PRACTICA 2. Observación e interpretación de imágenes obtenidas utilizando el microscopio electrónico de barrido |
4. Microscopía electrónica de transmisión
4.1. Comprende y aplica los principios del funcionamiento del MET para la caracterización de un material. 4.1.3. Actividad 3. Microscopía electrónica de transmisión Reporte gral 10% ![]() 4.1.4. Práctica 3. Análisis microestructurales por MET 4.1.5. Sumativa . Micrografías. |
Prácticas de Laboratorio (20242025N) |
Fecha |
Hora |
Grupo |
Aula |
Práctica |
Descripción |
Cronogramas (20242025N) | |||
Grupo | Actividad | Fecha | Carrera |
Temas para Segunda Reevaluación |